與消費級芯片相比，車規級芯片需要面對更為苛刻的應用環境，對其可靠性、安全性要求極其嚴格，通常車規級芯片需要通過 AEC-Q 系列的認證。PAT，是針對AEC-Q100和AEC-Q101的測試，采用異常檢測的方法找出有風險的芯片，以提高質量和可靠性。車規級芯片PAT系統，采用開源大數據技術引擎，可以對芯片測試的CP、FT環節測試數據的進行一站式數據治理，針對設定的PAT卡控規則進行計算，找出有風險的良品，避免其漏出。

功能特點：

?支持并行1000+ Lot/Run數據同時進行校驗與卡控。

?結合業務Know-How設計了常見的PAT卡控規則，包括DPAT、GDBN、ZPAT等，支持通過配置的方式進行設定，滿足不同的管控需求。

?支持生成Inkless Map文件，支持與MES聯動過站。

核心價值：

車規級芯片通過AEC-Q認證必備的保險，避免不良品漏出，提高質量和可靠性。