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RCS

芯片測試結批管系統(RCS)簡介:

在半導體測試領域,生產環境存在各種各樣的不確定性,可能由于人、機、料、法、環等因素造成測試機制程能力的偏移。芯片測試結批管控系統,采用開源大數據技術引擎,可以對芯片測試的CP、FT環節測試數據的進行一站式數據治理,針對設定的卡控規則進行計算,發現制程問題及時以郵件、企業微信等方式發送告警到對應責任人,降低不合格品流出的風險。用戶可通過系統定義不同的卡控規則,實現對于不同客戶、產品、測試程序的Lot或Run進行校驗與卡控,通過多維度、多層級的組合對Yield、Bin、測試項等進行管控。



功能特點:

?支持并行1000+ Lot/Run數據同時進行校驗與卡控。

?結合業務Know-How設計了常見的卡控規則,支持通過配置的方式進行設定,滿足不同的管控需求。

?支持郵件、微信等主流告警,支持與MES聯動過站。


核心價值:

?為生產上一道保險,避免不良品漏出。

?提升發現問題的效率,及時解決問題,降低良率或質量持續惡化的風險。

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