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ATYMS大數據分析

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ATYMS

芯片測試數據分析系統(ATYMS)簡介:

在半導體測試領域,每時每刻都在產生大量數據,然而工程師經常面臨無法有效使用數據來發揮其價值的問題,根源在于數據分布零散且質量層次不齊、數據指標計算不統一且計算花費時間太長、傳統存儲無法支持多批次的數據分析等。芯片測試數據分析系統,采用開源大數據技術引擎,可以對芯片測試的WAT、CP、FT、SLT全流程測試數據的進行一站式數據治理,構建符合業務主題的數據倉庫,覆蓋測試數據分析的主流場景。系統提供了自助式的數據分析工具,包括指標與維度的自由組合、豐富的圖表呈現(Table、Chart、Statistical、Wafer View等)、靈活的儀表盤與報表等等。



功能特點:

?  支持萬億級數據量(PB級),可對歷史長時間范圍內的數據進行趨勢分析,常規查詢可在5秒內返回。

?  基于業務Know-How構建分析主題,提供100+維度、50+指標的自主組合分析,業務人員無需關注數據處理和存儲的細節,只需關注數據分析邏輯。

?  提供科學靈活的儀表盤、圖表工具、報表,支持不同形式的分析,簡單直觀。


核心價值:

?  大大降低制作周期性報表的時間成本,提升整體業務效率。

?  通過建立指標趨勢分析,監控制程是否異常,提升發現、定位問題的效率。

?  針對外部反饋的問題,進行追溯分析,找到問題根源,為采取相應措施提供有力支撐,變被動為主動。

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